Transmisyjny mikroskop elektronowy: Różnice pomiędzy wersjami
| [wersja nieprzejrzana] | [wersja przejrzana] |
Usunięta treść Dodana treść
rolllo Znacznik: usuwanie dużej ilości tekstu (filtr nadużyć) |
m Wycofano edycje użytkownika 91.202.230.34 (dyskusja). Autor przywróconej wersji to Siciol. |
||
Linia 1:
[[Plik:Electron microscope.svg|thumb|120px|Uproszczony schemat transmisyjnego mikroskopu elektronowego]]
'''Transmisyjny mikroskop elektronowy''' (ang:Transmission Electron Microscope) - rejestrowane są elektrony przechodzące przez próbkę. Próbka w takim mikroskopie musi być cienką płytką o grubości mniejszej od 0,1 mikrometra. Przygotowanie takiej próbki jest trudne i znacznie ogranicza zastosowania mikroskopu.
Najważniejszym elementem transmisyjnego mikroskopu elektronowego jest kolumna mikroskopu (1), która zawiera [[działo elektronowe]] (2) wytwarzające (np. w wyniku [[emisja termoelektronowa|termoemisji]] lub emisji polowej) wiązkę elektronów (3). Wstępnie uformowana wiązka elektronów w obszarze pomiędzy [[katoda|katodą]] (4) i [[anoda|anodą]] (5) zostaje rozpędzona uzyskując energię:
<math> E=e U,</math> gdzie ''e'' jest ładunkiem elektronu, a ''U'' [[napięcie elektryczne|napięciem]] między katodą i anodą.
Zwiększenie napięcia pozwala na zwiększenie pędu elektronów, co zmniejsza długości fali. Przykładowo, gdy napięcie przyspieszające U = 300 kV , wtedy długość fali elektronów λ = 0,00197 nm. Dla takiego napięcia prędkość elektronów w kolumnie mikroskopu v = 0,776 c, gdzie '''c''' jest [[prędkość światła|prędkością światła w próżni]]. Aby elektrony mogły przebyć drogę od działa elektronowego do ekranu konieczne jest utrzymywanie w kolumnie bardzo wysokiej próżni. [[soczewka|Soczewkom]] optycznym odpowiada odpowiednio ukształtowane [[pole magnetyczne]] zmieniające bieg elektronów w cewkach ogniskujących (6). Istotną zaletą soczewek magnetycznych jest możliwość płynnej zmiany ich ogniskowych przez regulację natężenia prądu przypływającego przez soczewkę.
Gdy rozpędzona wiązka elektronów pada na preparat zachodzi szereg efektów, które są wykorzystywane w różnych urządzeniach badawczych. W przypadku dostatecznie cienkich preparatów część elektronów przechodzi przez preparat (7) i jest wykorzystywana w transmisyjnych mikroskopach elektronowych.
Elektrony mogą być odbite od preparatu lub mogą wybijać z preparatu elektrony zwane wtórnymi. Te dwa rodzaje elektronów wykorzystuje się w mikroskopach odbiciowych. Elektrony padające na preparat mogą ponadto wzbudzać elektrony atomów badanej próbki, które następnie emitują rentgenowskie promieniowanie charakterystyczne dla atomów próbki. Wiele mikroskopów elektronowych, zarówno transmisyjnych jak i skaningowych, wyposażonych jest w spektrometr(y) EDS (en: Energy Dispersive X-Ray Spectroscopy) lub WDS (en: Wavelength Dispersive X-Ray Spectrometry), pozwalające na wykonanie analizy składu chemicznego próbki.
Wiązka elektronowa po przejściu przez preparat może być kształtowana podobnie jak promienie świetlne, z wykorzystaniem układu [[obiektyw]] (8) - [[okular]] (9). W przypadku elektronów zamiast szklanych elementów optycznych wykorzystywane są cewki zmieniające bieg naładowanych cząstek. Mikroskop może pracować w trybie obrazu wówczas wiązka tworzy obraz preparatu na detektorze (10). Mikroskop pracujący w trybie dyfrakcji może nie mieć cewek obiektywu i okularu, obraz tworzą elektrony w wyniku zjawiska dyfrakcji na strukturze próbki. W pierwszych konstrukcjach detektor był ekranem [[Elektronoluminescencja|elektronoluminescencyjny]] (obecnie też stosowane), w obecnych konstrukcjach detektor w postaci matrycy [[matryca CCD|CCD]], pobudzanej elektronami, umożliwia odczytanie obrazu jako sygnałów elektrycznych, a odpowiednia aparatura pomiarowa pozwala na zapisywanie informacji i tworzenie obrazu próbki.
[[Kategoria:Mikroskopy]]
[[ar:مجهر إلكتروني نافذ]]
[[ca:Microscopi electrònic de transmissió]]
[[cs:Transmisní elektronový mikroskop]]
[[de:Transmissionselektronenmikroskop]]
[[et:Transmissioonelektronmikroskoop]]
[[en:Transmission electron microscopy]]
[[es:Microscopio electrónico de transmisión]]
[[fa:میکروسکوپ الکترونی عبوری]]
[[fr:Microscopie électronique en transmission]]
[[hi:प्रेषण इलेक्ट्रॉन सूक्ष्मदर्शन]]
[[it:Microscopio elettronico a trasmissione]]
[[kn:ಟ್ರಾನ್ಸ್ಮಿಶನ್ ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್ ಮೈಕ್ರೋಸ್ಕೋಪ್]]
| |||